走査型電子顕微鏡（SEM）
| 分野 | 物質・材料合成プロセス分野 |
| 機器ID | NU-004 |
| 装置名 | 走査型電子顕微鏡（SEM） / Scanning Electron Microscope (SEM) |
| メーカー名 | 日本電子 / JEOL |
| 型番 | JSM-7500F |
| 大分類（第1） |
電子顕微鏡 |
| 中分類（第1） |
走査型電子顕微鏡 |
| キーワード | 表面電子顕微鏡観察 表面元素分析 |
| 設置場所 | 名古屋大学東山キャンパス |
・電界放出形電子銃
・二次電子分解能：1.0nm（15kV）、1.4nm（1kV）
・倍率：×25～1,000,000 加速電圧：0.1～30kV
・ジェントルビーム
・オプション：リトラクタブル反射電子検出器(RBEI)、エネルギー分散形X線分析装置(EDS)