高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
| 分野 | 計測・分析分野 |
| 機器ID | NU-102 |
| 装置名 | 高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム / Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope (ARM Cold) |
| メーカー名 | 日本電子 / JEOL |
| 型番 | JEM-ARM200F Cold |
| 大分類（第1） |
電子顕微鏡 |
| 中分類（第1） |
走査型透過電子顕微鏡 |
| キーワード | 結晶構造解析 組成分布観察 ナノ材料 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 |
| 設置場所 | 名古屋大学東山キャンパス 超高圧電子顕微鏡施設 |
加速電圧：80, 200kV TEM, STEM, EELS, EDS TEM点分解能：110pm STEM－HAADF分解能：78pm