高分解能透過電子顕微鏡システム
| 分野 | 計測・分析分野 |
| 機器ID | NU-103 |
| 装置名 | 高分解能透過電子顕微鏡システム / High resolution analytical scanning transmission electron microscope |
| メーカー名 | 日本電子 / JEOL |
| 型番 | JEM-2100F/HK |
| 大分類（第1） |
電子顕微鏡 |
| 中分類（第1） |
透過型電子顕微鏡 |
| キーワード | 結晶構造解析 組成分布観察 エネルギー分散型X線分光 |
| 設置場所 | 名古屋大学東山キャンパス 超高圧電子顕微鏡施設 |
加速電圧：80, 200kV TEM, STEM, EDS TEM点分解能：0.14nm STEM－HAADF分解能：1nm